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The Test Platform Conscruction of Mtm Fuse FPGA

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The Test Platform Conscruction of Mtm Fuse FPGA
论文目录
 
摘要第1-5页
abstract第5-9页
第一章 绪论第9-13页
  1.1 反熔丝FPGA的背景与意义第9-10页
  1.2 反熔丝FPGA测试平台的发展现状与研究意义第10-11页
  1.3 本文的主要工作以及结构安排第11-13页
第二章 反熔丝FPGA的基本原理与结构第13-18页
  2.1 反熔丝FPGA的基本架构第13-14页
  2.2 反熔丝单元与可测试资源第14-17页
    2.2.1 反熔丝单元器件第14-15页
    2.2.2 可测试逻辑模块第15-16页
    2.2.3 互联线资源和可编程I/O端口第16-17页
  2.3 本章小结第17-18页
第三章 反熔丝FPGA测试方法研究与测试需求分析第18-28页
  3.1 MTM型反熔丝FPGA芯片第18-19页
  3.2 反熔丝FPGA测试电路第19-20页
  3.3 反熔丝FPGA测试方法与流程第20-25页
    3.3.1 CLB模块的编程测试第20-22页
    3.3.2 CLB模块的仿真验证第22-25页
  3.4 反熔丝FPGA测试平台的基本原理第25-26页
  3.5 反熔丝FPGA测试平台的设计需求分析第26-27页
  3.6 本章小结第27-28页
第四章 反熔丝FPGA测试平台的系统架构与硬件系统设计第28-54页
  4.1 反熔丝FPGA测试平台系统架构第28-30页
  4.2 硬件架构方案设计第30-31页
  4.3 电源系统方案设计第31-34页
  4.4 基于STM32的核心控制板设计第34-41页
    4.4.1 通信电路设计第34-35页
    4.4.2 测试电压产生电路设计第35-38页
    4.4.3 采集反馈电路设计第38-41页
  4.5 STM32控制系统设计第41-44页
  4.6 硬件系统PCB板设计第44-47页
  4.7 驱动方案设计第47-53页
    4.7.1 针对STM32控制外围电路的驱动设计方案第47-49页
    4.7.2 针对控制板与上位机软件通信的驱动方案设计第49-53页
  4.8 本章小结第53-54页
第五章 上位机软件设计与实例验证第54-63页
  5.1 上位机软件设计第54-55页
    5.1.1 信号signal与槽slot()第54-55页
    5.1.2 上位机通信协议第55页
  5.2 上位机软件界面设计第55-59页
  5.3 FPGA测试平台实例验证第59-61页
    5.3.1 测试硬件平台第59-60页
    5.3.2 功能验证结果第60-61页
  5.4 本章小结第61-63页
第六章 总结与展望第63-64页
  6.1 总结第63页
  6.2 展望第63-64页
致谢第64-65页
参考文献第65-67页
攻读硕士学位期间获得的成果第67页

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